無機成分
品牌
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Agilent -
Bruker
X射線光電子能譜分析選項
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總譜+分譜(包括C元素5個內)/樣 -
總譜+分譜(包括C元素6-8個)/樣 -
總譜+分譜(包括C元素9-10個)/樣 -
總譜+分譜(包括C元素10以上)/樣 -
盲掃(總譜+總譜中所有元素)/樣 -
刻蝕/濺射(≤30nm為一次刻蝕)/樣
電感耦合等離子體質譜分析選項
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每樣里可檢測元素(OES)/元素 -
每樣里可檢測元素(MS)/元素 -
酸溶制樣費/樣 -
堿溶制樣費/樣
多晶(粉末)X射線衍射測試選項
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廣角XRD(5-90度 10min內) -
廣角XRD(5-90度 20min內) -
廣角XRD(5-90度 30min內) -
廣角XRD(5-90度 40min內) -
廣角XRD(5-90度 60min內) -
小角XRD (范圍:0.5-5度) -
慢掃XRD(低于5度/min)
X射線熒光光譜(XRF)選項
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定性分析/樣 -
定量分析/樣














































