尺寸分析
原子力顯微鏡測試選項
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薄膜樣品/樣 -
固體樣品(塊狀或有基底)/樣 -
粉末或液體樣品/樣 -
纖維樣品/樣
小角X射線散射分析選項
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粉末樣品/樣 -
溶液樣品/樣 -
變溫樣品/樣 -
變溫樣品/增加溫度點
納米粒度及Zeta電位分析選項
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粒徑/樣 -
電位/樣
原子力顯微鏡測試(AFM)
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形貌/粗糙度測試(連續均勻薄膜/塊體2D、3D形貌)/個 -
形貌/粗糙度測試(液體/粉末/纖維/截面/斷面/不均勻樣品2D、3D形貌)/個 -
彈性模量(QNM)/力曲線(數據含2D或3D形貌)/個 -
表面電勢、開爾文探針(KPFM)(數據含2D或3D形貌)/個 -
橫向摩檫力原子兩顯微鏡(LFM)(數據含2D或3D形貌)/個 -
導電性(C-AFM),樣品需導電數據含2D或3D形貌)/個














































