合金高分辨場發(fā)射透射電鏡(TEM)

適用領(lǐng)域

    該儀器可完成材料組織形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)成分、界面結(jié)構(gòu),表面和缺陷等方面的測(cè)試與分析，應(yīng)用于材料微觀結(jié)構(gòu)的觀察和分析：形貌像分析；電子衍射圖像分析；HRTEM 高分辨像；掃描透射（STEM）分析；EDX能譜分析

面向?qū)W科

    可廣泛應(yīng)用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、物理學(xué)、地質(zhì)學(xué)， 金屬、半導(dǎo)體材料、高分子材料、陶瓷、納米材料

樣品要求

    如果需要雙噴電解制樣，需客戶自行磨樣至30-50微米厚度否則沒有薄區(qū)，測(cè)試?yán)蠋煵回?fù)責(zé)磨樣；如果馬氏體等硬相需要40微米以下，至少 3mm直徑圓面積；由于電解雙噴制樣不能保證一次性成功，建議每個(gè)樣品提供3-5塊備用。

收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)

    1) 形貌：600元/樣；     2) 高分辨形貌(HRTEM)：800元/樣；     3) 點(diǎn)掃：+200元/樣；     4) 線掃：+200元/樣；     5) 能譜(EDS)：+200元/樣；     6) 衍射：+200元/點(diǎn)/樣；     7) Mapping只需要1個(gè)位置1000元/樣；2個(gè)位置1500元/樣     8) 雙噴電解制樣：200      注：形貌10張；形貌+高分辨15張

測(cè)試儀器

    儀器名稱：合金高分辨場發(fā)射透射電鏡(TEM)     儀器型號(hào)：FEI TECNAI G2 F20     儀器廠家：美國 FEI公司     關(guān) 鍵 字：TEM、高分辨場發(fā)射透射電子顯微鏡、TEM、HTEM、HRTEM、EDS、鋼鐵TEM          儀器簡要：該儀器配備了STEM, EDX, CCD, HAADF等多種附件，能獲取TEM明場、暗場像高分辨像和選區(qū)電子衍射，能進(jìn)行EDX能譜分析和高分辨STEM原子序數(shù)像的分析，STEM結(jié)合EDX點(diǎn)、線、面掃描的可以進(jìn)行微區(qū)能譜分析，利用三維重構(gòu)軟件進(jìn)行樣品的三維重構(gòu)和分析。

儀器參數(shù)

    1) 加速電壓：200KV     2) 放大倍數(shù)：25K-1030K     3) 點(diǎn)分辨率：0.24nm     4) 線分辨率：0.102nm     5) 信息分辨率：0.14nm     6) 樣品傾斜角度:< ±30°     7) 相機(jī)常數(shù): 30-4500 mm     8) 電子槍：肖特基熱場發(fā)射電子槍