場發射電子探針
適用領域
1) 金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分鑒定。 2) 金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域。 3) 高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析。 4) 可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測。 5) 進行材料表面微區成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線、點分布分析。
面向學科
化學、化工、高分子、材料、金屬、材料、地質等
樣品要求
1) 樣品要求：粉末、薄膜、塊體均可。粉末10mg，塊體樣品高度小于15mm、長寬小于25mm 2) 特別注意：樣品上下表面平行，測試面務必拋光；不導電樣品需要噴金或噴碳；最好標記好分析面上的測試點，未標記測試位置，測試時只選有代表性、較平整位置測試；
收費標準
1) WDS(波譜面分析)：4個元素以內1500/樣，4個元素以上500元/元素，分辨率512*384； 2) WDS(波譜線分析)：4個元素以內800/樣，4個元素以上200元/元素； 3) WDS(波譜定量點)：4個元素以內，三個相(最多5點實驗結果)以內每個樣品1500元，4個元素以上400元/元素； 4) 微量元素和超輕元素在正常價格上增加300元/元素 5) 噴金/噴碳制樣：500元/次
測試儀器
儀器名稱：場發射電子探針
儀器型號：JXA-8530F Plus
儀器廠家：日本電子
關鍵字：波譜面分析、波譜線分析、波譜定量點、EPMA、場發射、電子探針
儀器簡要：日本電子推出了世界首臺商業化場發射電子探針（FE-EPMA），最新研發的第三代場發射電子探針JXA-8530F Plus，電子光學系統有了很大的改進，新的軟件能提供更高的通量，并保持著極高的穩定性，能實現更廣泛的EPMA應用,JXA-8530F Plus采用浸沒式肖特基場發射電子槍,優化了角電流密度，能利用2 μA以上的大探針電流進行分析，還提高了分析條件下的二次電子像的分辨率。
儀器參數
1) 元素分析范圍(WDS)：: Be to U 2) X射線范圍(WDS譜)：0.087-9.3nm 3) X射線光譜儀數量(WDS)：5 4) 樣品最大尺寸： 100mm*100mm*50mm(H) 5) 加速電壓： 1-30Kv(每次0.1Kv) 6) 探針電流穩定性： ±0.3%/h(10kV，50nA) 7) 二次電子圖像分辨率：3 nm at WD 11 mm, 30 kV 20 nm at 10 kV, 10 nA, WD 11 mm 50 nm at 10 kV, 100 nA, WD 11 mm 8) 放大倍數： ×40 to ×300,000 (WD 11 mm) 9) 掃描圖像像素分辨率：最高 5,120×3,840