熱場發射高分辨掃描電鏡(SEM)

適用領域

    1) 金屬、非金屬及復合材料、生物樣品表面形貌、組織結構的觀察分析及圖象處理     2) 納米材料：納米粉及納米粉體的形貌觀察和粒度測量分析     3) 微區成分的定性、定量分析，并對重點區域做元素分布圖     4) 顆粒樣品粒徑、面積、周長、圓度的測量，提供粒度分布圖，并可對孔徑樣品做孔徑分布直方圖、餅圖     5) 可對固體材料的表面涂層、鍍層進行結合情況觀察和厚度測量     6)廣泛用于冶金、生物、建筑、機械等行業的材料形貌觀察及元素成分分析，如金屬、半導體、陶瓷、高分子材料、有機聚合物等。

面向學科

    材料、電子、 生物、機械、 冶金 、化工、化學、食品、醫藥、建筑等諸多學科

樣品要求

    1)粉末、液體、薄膜、塊體均可。粉末10mg，塊體樣品直徑≤1cm，厚度＜1cm；液態或粘稠樣品務必烘干寄樣，如電子束照射下流動變形，則無法拍攝；     2) 混凝土，珊瑚沙，氣凝膠，水凝膠等需要抽真空時間非常長的樣品尺寸請盡可能直徑≤5mm，厚度≤5mm；     3)拍攝截面請盡量提前制備截面，軟質且較薄的材料可用液氮脆斷，硬質材料或厚度大建議直接掰斷或敲斷即可，液氮脆斷不適用；納米粉末容易團聚，請提前說明是否超聲分散；     4)若樣品有磁性（含鐵/鈷/鎳/錳元素），務必備注清楚；若隱瞞樣品實際信息，導致設備損壞，需承擔全部賠償責任；

收費標準

    1) 非磁性樣品：形貌 150元/樣；點掃+50元/樣；線掃+50元/樣；面掃+100元/樣；     2) 磁性樣品：形貌 160元/樣；點掃+80元/樣；線掃+100元/樣；面掃+150元/樣；     3) 噴金制樣免費，導電性不好或強磁樣品建議選擇噴金，如果樣品由于您要求不噴金而導致效果不好，測試老師可不安排復測；     4) 液氮脆斷 30元/樣；     5) 其他請咨詢在線客服；

測試儀器

    儀器名稱：熱場發射高分辨掃描電鏡     儀器型號：SUPRA55     儀器廠家：德國蔡司     關鍵字：熱場發射、SEM、形貌、掃描電鏡       儀器簡要：SUPRATM 55型場發射掃描電鏡(FESEM)采用了專利的GEMINI鏡筒設計和環形IN-LENS SE 探測    器，具有束流穩定、分辨率高的特點，能同時進行導電樣品和非導電樣品的高分辨成像及元素成分分析

儀器參數

    1) 電子槍：熱場發射型     2) 分辨率(最佳工作距離)：0.8 nm@15kV；1.6 nm@1kV     3) 放大倍數：12-1,000,000x     4) 加速電壓：0.02-30kV     5) 束流：配置1:4pA-20nA 配置2:12pA-100nA     6) 圖像處理：分辨率：最高3072*2304像素，降噪：7種積分和平均模式     7) 樣品室：330mm (φ) x 270mm (h)     8) 樣品臺：5軸電動優中心樣品臺     9) 探測芯片有效探測面積：10mm2     10) 元素探測范圍：Be(4)-Am(95)     11) 探測器能量分辨率：MnKα分辨率實測優于126eV