適用領域

    廣泛應用于材料、化學、物理、地質、地理、環境、生物、醫學、金屬、半導體、高分子、陶瓷等學科及領域

主要功能

    TEM形貌觀察及衍射分析、EDS成分分析、STEM形貌、Mapping

樣品要求

    1) 粉體、液體、可測試，薄膜或塊狀樣品不能直接拍攝，需另行制樣（如離子減薄、包埋切片、FIB等）；     2) 樣品要求：粉體需5mg左右，需要是納米級顆粒，液體1ml以上，如是分散的液體，盡量濃度稍大一些；     3) 若樣品有磁性（含鐵/鈷/鎳/錳元素），務必備注清楚；若隱瞞樣品實際信息，導致設備損壞，需承擔全部賠償責任；     4) 由于形貌類測試的特殊性，請盡量提供相關參考圖片或文字說明；測試過程中老師會根據要求和樣品實際情況盡力拍攝，但無法保證一定拍到理想形貌。

收費標準

    1) 非磁性：形貌+高分辨 400元，STEM 400元，能譜EDS點掃+100元，線掃+200元，衍射+100元，mapping 400元；     2) 弱磁性（含鐵 鈷 鎳 錳等元素，但不能被磁鐵吸起來）：形貌+高分辨 500元，STEM 500元，能譜EDS點掃+150元，線掃+250元，衍射+150元，mapping 600元；     3) 強磁性（含鐵 鈷 鎳 錳等元素，且能被磁鐵吸起來）：形貌+高分辨 650元，STEM 650元，能譜EDS點掃+160元，線掃+300元，衍射+160元，mapping 650元；     4) 說明：磁性指 Fe，Co，Ni元素或者磁鐵可以有響應的材料，形貌13-15張；形貌+高分辨17-20張；需要微柵/超薄碳膜制樣 +50元/樣；     5) 德國徠卡超薄切片制樣：冷凍切片：700元/樣 ； 常溫切片：500元/樣 ；包埋：100元/樣；有機聚合物樣品做切片都得在冷凍條件下做切片     6) 鋨酸染色制樣：600元/樣

測試儀器

    儀器名稱: 高分辨透射電鏡測試(300 kV)     儀器型號: Tecnai G2 F30     儀器廠家: FEI     儀器產地: 美國      Tecnai G2 F30 是一臺真正多功能、多用戶環境的場發射透射電子顯微鏡。該儀器將各種透射電鏡技術（包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS頻譜成像等）進行方便靈活地有機組合，形成了強大的分析功能，從而在同類型儀器中獨占鰲頭。除具有200KV的各種優點外，Tecnai G2 F30提供了300KV的加速電壓，可分析更厚、更具挑戰性的樣品。同時，該儀器使用戶可以在原子尺寸的分辨率下進行高質量、高穩定性的TEM、STEM和納米分析。

主要規格及技術指標

    1) 加速電壓： 200 kV～300 kV     2) 點分辨率：0.20 nm     3) 線分辨率：0.102 nm     4) 信息限度：0.14 nm     5) TEM放大倍數范圍 60 Χ -1000kx     6) 相機長度（mm）80 - 4，500     7) 最大衍射角度 ±12     8) STEM HAADF分辨率：0.19 nm     9) STEM放大倍數范圍：150 Χ -230Mx     10) 能譜分辨率：≤ 136 eV     11) 能量過濾器分辨率：≤ 0.9 eV