原位球差環(huán)境透射電子顯微鏡(可現(xiàn)場測試)
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- 品牌： ThermoFisherScientific
- 型號： FEI Titan Themis ETEM G3
- 商品庫存： 有現(xiàn)貨
- 銷量: 2
原位球差校正環(huán)境透射電子顯微鏡(Cs-corrected TEM)
應用范圍
1.能源、催化材料高分辨電子顯微結(jié)構(gòu)分析 2.反應條件下，材料原子結(jié)構(gòu)原位動態(tài)觀測
收費標準
1) 靜態(tài)分析： 3000元/小時; 2) 原位測試(不含芯片)： 3000元/小時; 3) 現(xiàn)場測試：加收50%;
儀器信息
儀器名稱: 原位球差校正環(huán)境透射電子顯微鏡(Cs-corrected TEM)
儀器品牌: FEI
儀器型號: Titan Themis ETEM G3
功能參數(shù)
1.X-FEG高亮度熱場發(fā)射電子槍 2.加速電壓：80kV，200kV，300kV 3.標準分辨率STEM <0.136 nm, TEM<0.1nm；環(huán)境模式分辨率（<0.5mbar氣氛）：STEM<0.12nm，TEM<0.12nm 4.壓差物鏡設計實現(xiàn)10-3-2000Pa氣氛環(huán)境的直接加載；適用氣氛：Air、N2、CO、CO2、H2、N2O、O2、H2O等一種或多種氣氛且比例可調(diào)混氣。 5.內(nèi)置反應氣體分析(RGA，質(zhì)譜儀檢測) 6.NanoEx-i/v樣品臺，最高加熱1000oC 7.GatanOne view高速相機 8.GIF Quantum ER能量過濾系統(tǒng)，＜0.1eV分辨率
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