球差透射電子顯微鏡(Cs-corrected TEM)
應用范圍
可以對各種無機材料做原子分辨率晶體結構、電子結構、微區成分分析。
收費標準
1) 靜態分析 3000元/小時; 2) 現場測試：加收1000元/小時;
儀器信息
儀器名稱: 球差校正透射顯微鏡(Cs-corrected TEM)
儀器品牌: JEOL
儀器型號: JEM-ARM200F
功能參數
1.成像模式：STEM,HAADF, MAADF, BF, ABF, TEM 2.加速電壓：200, 120, 80KV 3.熱場發射電子槍 4.束斑像差矯正器 5.STEM點分辨率0.08nm 6.100mm2SDD能譜 7.GIF Quantum ER能量過濾系統
易科研 | 科研不再難
客服電話/客服QQ：4001668689
詢問關于該商品的問題
注意 評論內容不支持HTML代碼！