超高分辨熱場發射掃描電子顯微鏡(SEM)
應用范圍
1) 適用于金屬、陶瓷、高分子等各種材料的顯微形貌觀察和微區化學成分檢測 2) 適用于不導電樣品和磁性樣品。
收費標準
1) 全部測試方法 :750元/小時; 2) 高分辨掃描圖像二次電子或背散射觀察: 600元/樣(倍數50000-) 3) EDS點分析 :250元/點。; 4) EDS線分析 :300元/條線; 5) EDS面分析 :300元/面分布; 6) 元素分析：EDS點分析 :100元; 7) 形貌觀察和元素分析 :150元/條線; 8) 形貌觀察和元素分析 :EDS面分析 150元/樣; 9) 現場測試：費用翻倍
儀器信息
儀器名稱: 超高分辨熱場發射掃描電子顯微鏡(SEM)
儀器品牌: JEOL
儀器型號: JSM-7800
功能參數
1) 分辨率：0.8nm(GB)(15kV) 2) 加速電壓：0.01~30kV 3) 放大倍率：25~1000,000 4) 檢測器：高位檢測器（UED） 5) 背散射電檢測器（BED） 6) 低位檢測器（LED） 7) SHL透鏡
易科研 | 科研不再難
客服電話/客服QQ：4001668689
詢問關于該商品的問題
注意 評論內容不支持HTML代碼！